เลเซอร์มาร์กเกอร์ 2D Galvo Scanner |การเชื่อม |ตัด |การทำความสะอาด |ซีรีย์ G3
คำอธิบายและบทนำ
เครื่องสแกน Galvo G3 Ult II ใช้มาตรการป้องกันการรบกวนหลายรูปแบบ โดยให้ภูมิคุ้มกันของระบบที่แข็งแกร่ง ความน่าเชื่อถือสูง ความเชิงเส้นที่ดี ความสามารถในการทำซ้ำสูง และเวลาตอบสนองที่สั้นระบบใช้การออกแบบแบบบูรณาการที่มีขนาดเล็ก น้ำหนักเบา และการปิดผนึกที่ดีเยี่ยม ทำให้มั่นใจได้ถึงความเสถียรระหว่างการทำงานที่ยาวนาน
เครื่องสแกน G3 Std Galvo เป็นโมดูลการสแกนด้วยแสงความเร็วสูง เสถียร และแม่นยำสูง ซึ่งใช้กันอย่างแพร่หลายในการใช้งานต่างๆ เช่น การมาร์กวัสดุด้วยเลเซอร์ การตัดด้วยเลเซอร์ การเชื่อมด้วยเลเซอร์ การพิมพ์ 3 มิติ การทำความสะอาดด้วยเลเซอร์ วัสดุท่อร้อยสายการบิน รหัส QR ที่รวดเร็ว การสแกน และอื่นๆเหมาะสำหรับสถานการณ์การใช้งานระดับกลางถึงระดับสูง
G3 Base Galvo Scanner เป็นโมดูลการสแกนด้วยแสงอเนกประสงค์ที่มีความคุ้มทุนเป็นเลิศและประสิทธิภาพการประมวลผลที่ดีมีการใช้กันอย่างแพร่หลายในอุตสาหกรรมต่างๆ เช่น การมาร์กวัสดุด้วยเลเซอร์ การตัดด้วยเลเซอร์ การเชื่อมด้วยเลเซอร์ การพิมพ์ 3 มิติ การทำความสะอาดด้วยเลเซอร์ และเหมาะสำหรับการใช้งานการประมวลผลด้วยเลเซอร์มาตรฐาน
รูปภาพสินค้า
G3 อัลท์ II
G3 มาตรฐาน
ฐาน G3
ข้อมูลจำเพาะ
| การกำหนดค่า | ||
| เครื่องสแกน | เส้นผ่านศูนย์กลางอินพุต | 10 มม |
| ข้อผิดพลาดในการติดตาม | 0.11 มิลลิวินาที | |
| ความเร็วการทำเครื่องหมาย | 8000 มม./วินาที | |
| ความเร็วในการกำหนดตำแหน่ง | 15,000 มม./วินาที | |
| 1% เต็มสเกล | 0.26 มิลลิวินาที | |
| 10% เต็มสเกล | 0.62 มิลลิวินาที | |
| การทำซ้ำ | < 2 μrad | |
| ได้รับการดริฟท์ | < 100 ppm/K | |
| ออฟเซ็ตดริฟท์ | < 25 ไมโครราด/เคลวิน | |
| ดริฟท์เกิน 8 ชม | < 0.1 ม | |
| ความไม่เชิงเส้น | <0.4% | |
| มุมสแกน | ± 0.35 ราด | |
| อินเตอร์เฟซ | XY2 - 100 | |
| ความยาวคลื่น | 10600 นาโนเมตร, 1064 นาโนเมตร, 532 นาโนเมตร, 355 นาโนเมตร | |
| ขั้นพื้นฐาน | พลัง | ± 15 โวลต์กระแสตรง, 5 แอมป์ |
| น้ำหนัก | 2100 ก | |
| อุณหภูมิในการทำงาน | 25 ± 10°ซ | |
| การกำหนดค่า | ||
| เครื่องสแกน | เส้นผ่านศูนย์กลางอินพุต | 10 มม |
| ข้อผิดพลาดในการติดตาม | 0.11 มิลลิวินาที | |
| ความเร็วการทำเครื่องหมาย | 10,000 มม./วินาที | |
| ความเร็วในการกำหนดตำแหน่ง | 16,000 มม./วินาที | |
| 1% เต็มสเกล | 0.26 มิลลิวินาที | |
| 10% เต็มสเกล | 0.62 มิลลิวินาที | |
| การทำซ้ำ | < 2 μrad | |
| ได้รับการดริฟท์ | < 100 ppm/K | |
| ออฟเซ็ตดริฟท์ | < 25 ไมโครราด/เคลวิน | |
| ดริฟท์เกิน 8 ชม | < 0.15 ม | |
| ความไม่เชิงเส้น | < 1% | |
| มุมสแกน | ± 0.35 ราด | |
| อินเตอร์เฟซ | XY2 - 100 | |
| ความยาวคลื่น | 10600 นาโนเมตร、1064 นาโนเมตร、 532 นาโนเมตร、355 นาโนเมตร | |
| ขั้นพื้นฐาน | พลัง | ± 15 โวลต์กระแสตรง, 3 A |
| น้ำหนัก | 1800 ก | |
| อุณหภูมิในการทำงาน | 25 ± 10°ซ | |
| การกำหนดค่า | ||
| เครื่องสแกน | เส้นผ่านศูนย์กลางอินพุต | 10 มม |
| ข้อผิดพลาดในการติดตาม | 0.2 มิลลิวินาที | |
| ความเร็วการทำเครื่องหมาย | 5,000 มม./วินาที | |
| ความเร็วในการกำหนดตำแหน่ง | 10,000 มม./วินาที | |
| 1% เต็มสเกล | 0.32 น | |
| 10% เต็มสเกล | 1.2 มิลลิวินาที | |
| การทำซ้ำ | <2 ไมโครราด | |
| ได้รับการดริฟท์ | < 150 ppm/K | |
| ออฟเซ็ตดริฟท์ | < 50 ไมโครราด/เคลวิน | |
| ดริฟท์เกิน 8 ชม | < 0.2 ม | |
| ความไม่เชิงเส้น | < 1% | |
| มุมสแกน | ± 0.35 ราด | |
| อินเตอร์เฟซ | XY2 - 100 | |
| ความยาวคลื่น | 10600 นาโนเมตร、1064 นาโนเมตร、 532 นาโนเมตร、355 นาโนเมตร | |
| ขั้นพื้นฐาน | พลัง | ± 15 โวลต์กระแสตรง, 3 A |
| น้ำหนัก | 1800 ก | |
| อุณหภูมิในการทำงาน | 25 ± 10°ซ | |
