• برنامج التحكم في العلامات بالليزر
  • المتحكمات بالليزر
  • رأس الماسح الضوئي ليزر جالفو
  • الألياف / الأشعة فوق البنفسجية / ثاني أكسيد الكربون / الأخضر / بيكو ثانية / ليزر الفيمتو ثانية
  • بصريات الليزر
  • آلات الليزر OEM/OEM |وضع العلامات |لحام |قطع |تنظيف |زركشة

عدسة المسح Telecentric F-theta الصين |355 نانومتر |532 نانومتر |1064 نانومتر…

وصف قصير:


تفاصيل المنتج

علامات المنتج

عدسة ليزر F-theta مدمجة بالسيليكا والزجاج البصري، 1064 نانومتر، 355 نانومتر، 532 نانومتر، طلاء 10600 نانومتر

يتم التحكم بإحكام في زاوية تأثير مرآة المجال المسطح f-theta عن بعد بحيث يكون شعاع الخرج متعامدًا تقريبًا مع مستوى العمل في أي زاوية مجال رؤية.ونتيجة لذلك، يمكن تحسين الاستدارة والتوحيد (اتجاه المحور السيني والمحور ص) والعمودي (اتجاه المحور ع) للنقطة البؤرية بشكل كبير على عرض العلامة بالكامل.ولهذا السبب تتمتع عدسة f-theta التي مركزية عن بعد بمزايا خاصة في المعالجة الدقيقة بالليزر والثقب العمودي.

صورة المنتج

عدسة F-theta القياسية-الزجاج البصري-3
F-ثيتا عدسة المسح الضوئي الصين الصانع 10600 نانومتر
عدسة F-theta القياسية-الزجاج البصري

تخصيص

1064 نانومتر سيليكا فوسيد
1064 نانومتر زجاج بصري
355 نانومتر من السيليكا المعززة
532 نانومتر من السيليكا المعززة
532 نانومتر زجاج بصري
1064 نانومتر سيليكا فوسيد
رقم القطعة اللغة الإنجليزية كلغة أجنبية WD Φ في زاوية المسح مجال المسح حجم البقعة Φخارج الأعلى.I ل جبل الموضوع
(مم) (مم) (مم) (مم) (مم) (ميكرومتر) (مم) (°)
f-32T-1030-1080 32 31.79 10 ± 7.6 درجة Φ 8.5 (6 × 6) 6.2 90 1.4 م85 × 1
f-65T-1030-1080 65 80.99 10 ±16° Φ 36 (26 × 26) 12.65 90 0.58 م85 × 1
f-88T-20-1030-1080 88 120.51 20 ±9.5 درجة Φ 28.28 (20 × 20) 8.78 120 1.3 م85 × 1
f-90T-20-1030-1080 90 101.323 20 ± 17 درجة Φ 54 (38 × 38) 35 120 1.9 م85 × 1
f-100T-1030-1080 100 142.73 14 ± 20.7 درجة Φ 76 (54 × 54) 13.5 120 0.59 م85 × 1
f-100T-1030-1080 100 142.73 14 ± 20.7 درجة Φ 76 (54 × 54) 13.5 135 0.59 م85 × 1
f-100T-14-1030-1080 100 130.44 14 ± 20 درجة Φ 72 (51 × 51) 13.9 120 0.5 م85 × 1
f-120T-1030-1080 120 168.59 10 ± 24 درجة Φ 98 (70 × 70) 23.5 120 3 م85 × 1
f-125T-14-1030-1080 125 153.27 14 ±16.5° Φ 77.7 (55 × 55) 17.39 112 2 م85 × 1
f-125T-20-1030-1080 125 153.27 20 ± 18 درجة Φ 70.7 (50 × 50) 12.17 112 1.8 م85 × 1
f-167T-1030-1080 167 215.5 14 ±20.3° Φ 120 (85 × 85) 17 140 3.69 م85 × 1
f-200T-14-1030-1080 200 296.954 14 ± 20 درجة Φ 141 (100×100) 27.82 173 2 م85 × 1
f-254T-14-1030-1080 254 376.53 14 ± 18 درجة Φ155.5(110×110) 35.3 126 5 م85 × 1
1064 نانومتر زجاج بصري
رقم القطعة اللغة الإنجليزية كلغة أجنبية WD Φ في زاوية المسح مجال المسح حجم البقعة Φخارج الأعلى.I ل جبل الموضوع
(مم) (مم) (مم) (مم) (مم) (ميكرومتر) (مم) (°)
f-100T-1064 100 122.8 15 ± 22 درجة Φ 77 (55 × 55) 13 120 2.1 م85 × 1
f-125T-1064 125 139.58 20 ± 21.5 درجة Φ 109 (66 × 66) 12 120 3 م85 × 1
إف-167تي-1064* 167 216.23 20 ± 21 درجة Φ 125 (90 × 90) 16.5 140 4.4 م85 × 1
إف-170تي-30-1064 * 170 209.61 30 ± 21 درجة Φ 120 (88 × 88) 11.1 140 4.4 م102 × 1؛ م112
f-183T-20-1064* 183 219.63 20 ±11.5° Φ 70.7 (50×50) 17.82 113 0.8 م85 × 1
f-210T-30-1064-M95 * 210 279.63 30 ± 22 درجة Φ 161 (115×115) 13.69 188 3.3 م95×1
f-210T-30-1064-M102 * 210 279.63 30 ± 21 درجة Φ 154(108×108) 13.69 188 3.3 م102×1
f-211T-10-1064-M85 * 211 279.63 10 ± 20 درجة Φ 147(104×104) 41.1 150 4.4 م85 × 1
f-315T-14-1064B* 315 432.072 14 ± 24.5 درجة Φ 269(190×190) 43.8 270 2.3 م85 × 1
355 نانومتر من السيليكا المعززة
رقم القطعة اللغة الإنجليزية كلغة أجنبية WD Φ في زاوية المسح مجال المسح حجم البقعة Φ خارج جبل الموضوع
(مم) (مم) (مم) (مم) (مم) (ميكرومتر) (مم)
f-30T-355 30 35.347 10 ±10.5 درجة Φ 8.5 (8 × 8) 1.95 47.4 م39 × 1
f-32T-355B 32 26.34 10 ±7.6 درجة Φ 8.5 (1 × 1) 3.2 90 م85 × 1
f-60T-355 60 73.65 10 ±16 درجة Φ 31 (22 × 22) 11.5 90 م85 × 1
f-65T-355 65 81.106 10 ±9.4 درجة Φ 21.2 (15 × 15) 4.2 94 م85 × 1
f-70T-355 73.9 91.35 10 ±16 درجة Φ 40 (28 × 28) 4.5 90 م85 × 1
f-100T-355 100 107.68 14 ±20.4 درجة Φ71 (50.8 × 50.8) 6.69 120 م85 × 1
f-100T-14-355B 100 135.475 14 ± 21 درجة Φ 70.7 (50 × 50) شعاع = 14 مم 5 120 م85 × 1
f-103T-355 103 136.13 12 ±20.4 درجة Φ 72 (51 × 51) 5.58 100 م85 × 1
f-110T-355 110 153.88 8 ± 24 درجة Φ 92 (65 × 65) 8.9 120 م85 × 1
f-120T-355 120 149.107 10 ± 22.5 درجة Φ 92 (65 × 65) 8 118 م85 × 1
f-130T-355 130 159.92 10 ±19 درجة Φ 85 (60 × 60) 8.45 120 م85 × 1
f-167T-10-355 167 211.25 10 ± 24 درجة Φ 127 (90 × 90) 10.8 130 م85 × 1
f-167T-14-355 167 234.52 14 ±18 درجة Φ 99 (70 × 70) 7.8 140 م85 × 1
F-167T-14-355B 166.57 229.163 14 ± 22 درجة Φ 127 (90 × 90) 7.7 159 م85 × 1
f-175T-355 175 247.487 10 ± 24 درجة Φ 142 (101 × 101) 11.8 140 م85 × 1
f-295T-14-355 295 426.75 14 ±23.7 درجة Φ244 (172 × 172) 13 280 م85 × 1
f-330T-355 330 581.581 14 ± 20 درجة Φ 245 (173 × 173) 15.3 270 م85 × 1
532 نانومتر من السيليكا المعززة
رقم القطعة اللغة الإنجليزية كلغة أجنبية WD Φ في زاوية المسح مجال المسح حجم البقعة Φ خارج الأعلى.I ل جبل الموضوع
(مم) (مم) (مم) (مم) (مم) (ميكرومتر) (مم) (°)
f-63T-510-550 63 82.1 10 ±16° Φ 33 (23 × 23) 6.2 90 1 م85 × 1
f-88T-14-510-550 88 100.63 14 ± 17 درجة Φ 52 (37 × 37) 10 120 1.9 م85 × 1
f-100T-510-550 100 142.2 10 ± 20.7 درجة Φ 76 (54 × 54) 13.5 120 0.38 م85 × 1
f-100T-14-510-550 100 135.402 14 ± 21 درجة Φ 70.7 (50 × 50) 7 120 1.3 م85 × 1
F-167T-14-510-550 167 232.23 14 ± 21 درجة Φ 127 (90 × 90) 11.61 140 3 م85 × 1
532 نانومتر زجاج بصري
رقم القطعة اللغة الإنجليزية كلغة أجنبية WD Φ في زاوية المسح مجال المسح حجم البقعة Φخارج الأعلى.I ل جبل الموضوع
(مم) (مم) (مم) (مم) (مم) (ميكرومتر) (مم) (°)
f-100T-532 100 125.04 15 ± 21.5 درجة Φ 71 (50 × 50) 6.5 120 3.2 م85 × 1
f-110T-532 110 132.94 15 ± 21.5 درجة Φ 83 (60 × 60) 7.2 120 3.2 م85 × 1
f-170T-532 170 214.66 14 ± 21.8 درجة Φ 129 (91 × 91) 11.8 140 3 م85 × 1
f-170T-20-532 170 204.788 20 ± 24 درجة Φ 141 (100 × 100) 8.53 164 4 م102 × 1

  • سابق:
  • التالي: